上海新建　XJ4820型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4820型CRT读出半导体管特性图示仪用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，以数字字符显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，从而减少了读数误差，提高了测量精度。本仪器是新一代智能化的测量仪器。

上海新建　XJ4830型智能半导体管特性图示仪先进的智能仪器 测试开关智能控制，各种控制开关测试条件可预置、测试结果可存盘、可打印输出，并可适用PC机显示被测器件特性曲线。 综合的存储能力 被测器件的各种特性曲线可编辑存储在机内硬盘或软盘中，可随时调用。并可同时显示二簇特性曲线，便于用户对被测器件的比较和配对。 自动光标测量 提供光标测量方式，用CRT读出，显示测试档级、测试值、β、gm及集电极峰值电压输出百分比。 友好的人机界面 Z大可能的方便用户控制操作，用VGA显示器显示，分辨率高。

上海新建　QT2型半导体管特性图示仪 QT2型半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数，Z大集电极电流超过50A，能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置，可对5KV以下的二极管、三极管进行击穿电压及反向漏电脑测试。其测试电流Z高灵敏度可达0.5μ/div

上海新建　XJ4810A型半导体管特性图示仪 XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。 集电极扫描信号

上海新建　XJ4810型半导体管特性图示仪 XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。

上海新建　XJ4822型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4822 CRT读出图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。 ·光标测量，字符读出，使各种静态参数包装β、Gm均可光标测量字符读出。 ·双族显示用于对各种参数配对 ·Z大测试功率近100W ·阶梯电压±10V＋△VB±5V内阻低特别适宜大功VMOS管测试 ·

新建　XJ4822B型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4822B CRT图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。

爱仪 JS-7B晶体管测试仪 JS-7B晶体管测试仪可测NPN/PNP晶体管lceo lcbo，H11，β，Nf等参数，测微电流灵敏度达10nA（满度值）

本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型的场效应管进行单管或对管测试。

本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试CMOS、TTL数字集成电路电压传输特性，不仅可判别被测器件功能是否正常，还可测出其开门电压、关门电压的重要参数。