AT817 采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT817仅需微型机箱即可容纳。依赖于安柏科技*的技术，使其性能亦无可挑剔。
内建50Hz~100kHz 10点测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能*多数生产现场的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型仪器操作系统，使AT817具有傻瓜式操作界面。
内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能。
内置Handler接口，配合RS232C接口完成复杂的自动控制系统。

技术规格

●	测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad）
●	测试频率：50Hz~100kHz
●	基本准确度：0.05%
●	测试电平：0.1V, 0.3V, 1.0V
●	测试速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒
●	主副参数5位显示
●	L: 0.01μH-99999H
●	C: 0.01pF - 99999μF
●	R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ?
●	D,Q: 0.00001 - 999999
●	θ（deg）: -90.000°- 90.000°?
●	θ（rad）: -3.1416 – 3.1416
●	Δ%: -99999% - 99999%
●	输出阻抗：30Ω, 50Ω 100Ω
●	等效电路：串联, 并联
●	9量程自动或手动测试。

性能特征

●	高亮度，超清晰四色VFD显示。
●	校正功能：全量程程开路和短路扫频清零。
●	第三窗口可同时显示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分选结果。
●	比较器（分选）功能：内建20组分选记录，P1,P2,P3,NG,AUX 五档分选结果显示和输出。
●	自定义分选结果讯响和音量。
●	内置RS232C接口和Handler接口。
●	显示亮度可调。
●	1000V*冲击保护

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简要描述：● 测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) ● 测试频率：50Hz~100kHz ● 基本准确度：0.05% ● 测试电平：0.1V, 0.3V, 1.0V ● 测试速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 ● 主副参数5位显示

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